伊瓦特手持光譜分析儀在金屬加工制造中的應(yīng)用

時(shí)間：2024-06-28作者：無(wú)錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：106

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 深受檢驗(yàn)員喜愛(ài)的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)能手-伊瓦特手持光譜儀

  伊瓦特手持光譜儀深受檢驗(yàn)員喜愛(ài)，這主要得益于其多方面的優(yōu)點(diǎn)。首先，伊瓦特手持光譜儀具有出色的便攜性，體積小、重量輕，方便攜帶，檢驗(yàn)員可以隨時(shí)隨地進(jìn)行測(cè)量和分析。這種靈活性使得檢驗(yàn)員能夠在各種環(huán)境下輕松應(yīng)對(duì)各種測(cè)量需求，無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室還是野外現(xiàn)場(chǎng)，都能輕松操作。其次，伊瓦特手持光譜儀具有實(shí)時(shí)性，能夠?qū)崿F(xiàn)快速測(cè)量和分析，檢驗(yàn)員可以立即獲得結(jié)果，從而快速做出決策。這種即時(shí)反饋的特性使得檢驗(yàn)員能夠迅速了解樣

• 臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差的幾個(gè)來(lái)源分析

  臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。在各種應(yīng)用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來(lái)我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差來(lái)源。粉末樣品誤差主要來(lái)源：（1） 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來(lái)說(shuō)，被分析樣品的粒度越小，熒光強(qiáng)度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對(duì)粒度越敏感；同一元素粒度越小，

• 臺(tái)式x熒光光譜儀是否可以測(cè)金屬鍍層？

  近日，創(chuàng)想小編收到來(lái)自售前的反饋說(shuō)有客戶(hù)咨詢(xún)臺(tái)式x熒光光譜儀可不可以測(cè)金屬鍍層？接下來(lái)小編來(lái)回答一下這個(gè)問(wèn)題。臺(tái)式X熒光光譜儀是通過(guò)激發(fā)樣品中的分子或原子，使其發(fā)生熒光**，然后檢測(cè)產(chǎn)生的熒光光譜來(lái)分析樣品的成分和結(jié)構(gòu)?，F(xiàn)如今臺(tái)式X熒光光譜儀是一種非常常用的分析儀器，很受廠(chǎng)家的青睞。答案是肯定的。事實(shí)上，臺(tái)式X熒光光譜儀可以用于測(cè)量各種類(lèi)型的金屬鍍層，包括鍍鉻、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅等。這是因?yàn)榻饘馘儗?/p>

• 伊瓦特手持式光譜儀可以用在哪些領(lǐng)域？

  伊瓦特手持光譜儀是基于XRF光譜分析技術(shù)的一種光譜儀，它可以進(jìn)行快速無(wú)損、高精度的檢測(cè)，廣泛應(yīng)用于冶全，地質(zhì)，有色、等各個(gè)領(lǐng)城，尤其是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域。創(chuàng)想儀器的手持式光譜儀采用模塊化設(shè)計(jì)，主機(jī)部件體積小、重量輕、可以輕松應(yīng)對(duì)多種場(chǎng)所，對(duì)于環(huán)境的要求不高。儀器無(wú)須預(yù)熱，即開(kāi)即用。伊瓦特手持光譜儀在多種領(lǐng)域中游刃有余，受許多生產(chǎn)廠(chǎng)家的青睞。1、檢驗(yàn)合金材料、庫(kù)存材料管理、安裝材料復(fù)檢。在石化建設(shè)、